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  1. ZEISS Crossbeam 550 ist optimiert für die hochaufgelöste Bildgebung bei hohem Strahlstrom und für schnelle Analysen. Präparieren und charakterisieren Sie Ihre schwierigsten Proben und wählen Sie die Kammergröße aus, die für Ihre Proben am besten geeignet ist.

  2. Introducing ZEISS Crossbeam 550 - Overview, Applications and Experiments. With this webinar ZEISS Crossbeam 550 was introduced in 2017. It gives an overview over the Crossbeam family and showcases applications and, experiments done by the early adopters.

  3. Crossbeam 550 Prepare and characterize your most demanding samples, choosing the chamber size that best suits your samples. The Gemini 2 electron optics enables high resolution, even at low voltage and high current. It’s ideal for high resolution imaging at high beam current and for fast analytics.

  4. 15. März 2017 · ZEISS Crossbeam 550 erlaubt es, Proben simultan zu modifizieren und zu beobachten, was in schneller Probenpräparation und hohem Durchsatz resultiert, z.B. bei der Anfertigung von Querschnitten, TEM-Lamellen oder beim Nanopatterning. ZEISS Crossbeam 550 liefert beste Bildqualität in 2D und 3D.

  5. ZEISS Crossbeam 550. Specifications. - Emittor: FEG. - Accelerating voltage: 0.02-30 kV (SEM); 0.5-30 kV (FIB) - Resolution: 0.7 nm at 30 kV (STEM mode); 1.6 nm at 1 kV (SEM mode);3 nm at 30 kV (FIB mode) Detectors: - SE. - InLens (in-column SE detector) - EsB (Energy-selective in-column backscattered electron detector)

  6. Zeiss CrossBeam 550 (FIB-SEM) Das Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM) bietet neben der Möglichkeit zur konventionellen Rasterlektronenmikroskopie, Optionen die Oberflächen der Proben zu bearbeiten.

  7. 1. Juli 2017 · Beste Bildqualität will das Crossbeam 550 sowohl in 2-D als auch 3-D liefern. Der neue Tandem-decel-Modus soll neben der gesteigerten Auflösung eine Maximierung des Bildkontrastes bei niedrigen Landeenergien ermöglichen. Mit der innovativen Gemini-II-Elektronenoptik kann laut Zeiss eine optimale Auflösung bei Niederspannung und ...