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  1. This article provides an overview of electron diffraction and electron diffraction patterns, collective referred to by the generic name electron diffraction. This includes aspects of how in a general way electrons can act as waves, and diffract and interact with matter.

  2. Der englische Begriff Low-Energy Electron Diffraction (LEED, dt. „Beugung niederenergetischer Elektronen an Oberflächen“) bezeichnet eine physikalische Methode zur Untersuchung der Anordnung von Atomen an Oberflächen und in dünnen Filmen. Man nutzt hierbei den grundlegenden Effekt der Interferenz von Wellen gleicher ...

  3. Elektronenrückstreubeugung (EBSD) (nach engl.: Electron backscatter diffraction) ist ein Messverfahren, mit dessen Hilfe das kristalline Gefüge eines Werkstoffs analysiert werden kann. [1] EBSD-Systeme werden in Rasterelektronenmikroskopen eingesetzt.

  4. de.wikipedia.org › wiki › RHEEDRHEED – Wikipedia

    RHEED (englisch reflection high-energy electron diffraction, deutsch ‚Beugung hochenergetischer Elektronen bei Reflexion‘) ist ein physikalisches Verfahren zur Analyse von glatten Materialoberflächen mit Hilfe der Elektronenbeugung. Die Elektronen haben hierbei eine Energie im Kiloelektronenvolt-Bereich (meist ca. 10–50 keV ...

  5. An electron backscatter diffraction pattern of monocrystalline silicon, taken at 20 kV with a field-emission electron source. Electron backscatter diffraction (EBSD) is a scanning electron microscopy (SEM) technique used to study the crystallographic structure of materials.

  6. Selected area (electron) diffraction (abbreviated as SAD or SAED) is a crystallographic experimental technique typically performed using a transmission electron microscope (TEM). It is a specific case of electron diffraction used primarily in material science and solid state physics as one of the most common experimental techniques.

  7. Low-energy electron diffraction (LEED) is a technique for the determination of the surface structure of single-crystalline materials by bombardment with a collimated beam of low-energy electrons (30–200 eV) and observation of diffracted electrons as spots on a fluorescent screen.